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當免洗焊錫絲出現錫須現象所帶來的危害

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???1951年，Compton、Mendizza和Amold^【1】發現免洗焊錫絲出現錫須會導致電路短路，并導致電容器失效，這一問題引發人們對Sn晶須進行了長期深入而廣泛的研究。但是時至今日，Sn晶須現象還存在大量未解之謎，可以認為這一現象本身至今依然很神秘。

晶須是指在金屬表面生長出的細絲狀單晶，通常生長在厚度較小的金屬沉積層表面，而以含錫鍍層表面生長的Sn晶須最典型。由于材料內應力梯度的存在，免洗焊錫絲錫須的生長是一個自發的過程，但是，其生長速度與外部環境條件密切相關。

由免洗焊錫絲錫須導致的失效形式主要有4種^【2】；在低電壓下，由于電流比較小，錫須可以在領近不同電勢表面產生穩定持久的短路；在高電壓下，當電流足夠高而超過Sn晶須的熔斷電流時，可以熔斷晶須從而導致瞬時短路；在航天器真空環境中，由錫須短路導致金屬蒸發放電，可形成一個穩定的等離子電弧，并導致電子設備迅速毀壞；在震動環境中，晶須脫落會引發電路短路，同時還可造成精密機械的故障或破壞。歷史上由于晶須導致的失效故障很多，其中有一些甚至是災難性的故障。可見包括心臟起搏器、F15戰斗機雷達、火箭發動機、愛國者導彈、核武器等各種電子產品中都曾發生過因晶須問題導致的事故。值得指出的是，在衛星等太空電子產品中也已經發生了數起由晶須問題引起的故障甚至嚴重事故。因此，Sn晶須問題成為無鉛化進程的一個重要的可靠性問題。這也是無鉛焊錫絲及所有無鉛焊錫產品進程的重要的可靠性問題。

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